大尺寸计量中双光梳绝对测距方法的研究进展

大尺寸长度计量与溯源过程是工业制造领域中大尺寸测量仪器测量精准的有力保障，同时也是保证工业产品质量的关键环节[1-3]。目前大长度的量值传递仍然依靠激光干涉仪的间接比对过程，需要长导轨产生连续增量位移并且在比对过程中断光后无法续接，亟需突破绝对式、直接溯源的大长度测量方法来直接灵活地完成测量现场的量值精准传递[4-5]。以飞秒光学频率梳为测量光源能够实现高精度的绝对长度测量，当重复频率和载波包络相移频率均精确锁定至原子钟频率标准，该长度测量方法能够直接完成现场溯源[6-7]。其中双光梳异步光学采样绝对距离测量方法是通过一对具有微小重频差的双光梳系统在时域上的连续范围内完成对测量脉冲的光学采样过程，因此应用双光梳异步光学采样技术能够实现大量程、高精度和高速的大尺寸绝对长度测量，为大尺寸计量提供了有力工具。

本文详细综述了大尺寸计量中双光梳绝对测距方法的发展沿革与研究进展，指出双光梳绝对测距研究存在的瓶颈问题，重点介绍了目前大尺寸计量中绝对测距装置的相关研究成果，最后展望了后续计划和应用前景。